Thiết bị đo độ dày lớp phủ Cem DT156

Đặc tính Thiết bị đo độ dày lớp phủ Cem DT156:

- Đo độ dày lớp phủ không từ tính trên nền kim loại nhiễm từ hoặc không nhiễm từ.

-  Dễ dàng sử dụng bởi phương pháp hoạt động trực quan.

-  Hai chế độ đo: Đo liên tục hoặc đo 1 lần.

-  Hai chế độ làm việc: Chế độ làm việc nhóm hoặc trực tiếp.

-  Hiển thị: giá trị trung bình, cao nhất, thấp nhất, số lần đo, độ lệch chuẩn.

-  Âm báo giá trị cao và thấp cho tất cả các chế độ làm việc.

-  Dễ dàng hiệu chỉnh vể zero.

-  Dễ dàng xóa dữ liệu đo nhóm và trực tiếp.

-  Bộ nhớ trong lưu 320 giá trị (80/nhóm)

-  Chế độ báo lỗi.

-  Có thể tắt chức năng tự động tắt.

-  Dễ dàng truyền dữ liệu vào máy tính qua cổng USB.

-  Nguyên lý đo: cảm ứng từ cho vật liệu nhiễm từ và kích dòng điện cho vật liệu không nhiễm từ.

-  Kèm phầm mềm phân tích dữ liệu.

-  Hiệu chỉnh cho bất kỳ chế độ làm việc độc lập nào.

-  Tự động phát hiện bề mặt đo (từ tính hoặc không từ tính)

 

Thông số kỹ thuật Thiết bị đo độ dày lớp phủ Cem DT156:

Đặc tính kỹ thuật Từ tính Không từ tính Nguyên lý đo Tầm đo   Độ chính xác                 Độ phân giải                       Độ cong tối thiểu Khu vực đo tối thiểu Độ dày cơ bản của vật liệu Nhiệt độ làm việc   Độ ẩm môi trường Trọng lượng Kích thước Cảm ứng từ 0 – 1250 µm 0 – 49.21 mils 0 – 850 µm (±3% + 1 µm) 850 – 1250 µm (±5%)   0 – 33.46 mils (±3% + 0.039 mils) 33.46 – 49.21 mils (±5%)   0 – 50 µm (0.1 µm) 50 – 850 µm (1 µm) 850 – 1250 µm (0.01 mm) 0 – 1,968 mils (0.001 mils)   1,968 – 33.46 mils (0.01 mils)   33.46 – 49.21 mils (0.1 mils) 1.5 mm Φ7 mm 0.5 mm 0oC – 40oC (32oF – 104oF) 20% - 90% 110 g 113.5 x 54 x 27 mm Kích dòng điện 0 – 1250 µm 0 – 49.21 mils 0 – 850 µm (±3% + 1.5 µm) 850 – 1250 µm (±5%)   0 – 33.46 mils (±3% + 0.059 mils) 33.46 – 49.21 mils (±5%)   0 – 50 µm (0.1 µm) 50 – 850 µm (1 µm) 850 – 1250 µm (0.01 mm) 0 – 1,968 mils (0.001 mils)   1,968 – 33.46 mils (0.01 mils)   33.46 – 49.21 mils (0.1 mils) 3 mm Φ5 mm 0.3 mm 0oC – 40oC (32oF – 104oF) 20% - 90% 110 g 113.5 x 54 x 27 mm